Раскрыта тайна ускорения производительности набора тестов.

Отправлено Гость (не проверено) от ср, 11/02/2016 - 12:26

Часть 2 из серии в 3х частях для получения большего количества повторного использования наборов тестов UVM. 
Скачать статью. 
Во второй части из этой серии, документ охватит то, как набор тестов UVM должен быть спроектирован для совместного использования симуляции и эмуляции чтобы улучшить производительность верификации блока в системе и уменьшить риск проектирования до передачи в производство. 

Электронная книга Дона Миллера бесплатно – Успех в дизайне систем с текучей средой

Отправлено Гость (не проверено) от пн, 10/31/2016 - 10:05

Наша наиболее читаемая электронная книга  «Успех в дизайне систем с текучей средой» Дона Миллера доступна. 1

Новейшее в создании электронного прибора.

Отправлено Гость (не проверено) от пт, 10/28/2016 - 10:06

1

Cоздание электронного прибора от идеи до производства больше чем схематика и топология пп. Инженеры и маленькие команды должны решить проблемы проекта в пределах от выбора компонентов, целостности сигнала и  мощности, охлаждения электроники, формы, адаптации и функции, до топологии и производства.

Ниже Вы найдете подбор  ресурсов для помощи Вам в решении многих из этих проблем проектирования:

Избежите дорогостоящих исправлений с фотореалистической визуализацией и DRC в реальном времени.

Отправлено Гость (не проверено) от пт, 10/28/2016 - 10:02

1

3D проектирование печатных плат дает разработчику возможность визуализировать их плату, как будто она была уже произведена. Это обеспечивает возможность проверить проблемы  электромеханики и избежать дорогостоящих модернизаций позже в цикле проектирования.

Встраивание  тестируемости в микросхему в стадии проектирования

Отправлено Гость (не проверено) от чт, 10/27/2016 - 12:22

Проектирование для тестируемости (DFT), верифицированное с использованием аппаратной эмуляции. 

Статья от полупроводникового производства и публикации сообщества дизайнеров. 25 февраля, 2016. Lauro Rizzatti, эксперт верифакации

Недавние статистические данные показывают, что стоимость тестирования комплекта  микросхем после производства, чтобы определить, какие части из них свободны от производственных  дефектов (в противоположность свободным от ошибок проектирования), прибавляет в целом 40% к стоимости создания микросхемы.

Mentor Graphics приобретает Galaxy Semiconductor

Отправлено Гость (не проверено) от вт, 10/25/2016 - 09:05

Вильсонвилль, Орегон, Октябрь, 10, 2016 - Mentor Graphics Corporation (NASDAQ: MENT) объявила сегодня о том, что приобрела Galaxy Semiconductor, ведущего поставщика программного обеспечения анализа данных для тестирования и  сокращения неисправностей для полупроводниковой промышленности. С этим приобретением у большего количества  инженеров – проектировщиков и тестирования теперь будет доступ к мощным решениям Galaxy для улучшения качества тестов, сокращения DPM (дефекты на миллион)...

Imagination и Mentor Graphics сотрудничают, чтобы увеличить скорость верификации основанных на MIPS проектов с Veloce и Codelink

Отправлено Гость (не проверено) от пн, 10/17/2016 - 09:53

Лондон, Великобритания и Вильсонвилль, Орегон – Февраль 24, 016 - Imagination Technologies (IMG.L) и  Mentor Graphics Corp. (Nasdaq: MENT) сотрудничают в эмуляции, чтобы помочь клиентам ускорить время выхода на рынок.   Платформа эмуляции Mentor® Veloce®, в частности предложение Codelink™, теперь поддерживает отладку проектов   с полным спектром Imagination, от начального уровня к самым высокопроизводительным процессорам MIPS, включая последний встроенный процессор M-класса M6250 на основе архитектуры MIPS R6.

Как оптимизировать анализ шумов устройства в сложных блоках

Отправлено Гость (не проверено) от ср, 10/12/2016 - 13:11

Этот документ представляет обзор методов анализа шума в полупроводниках и приборах. Прочитайте  документ:
 
«Шумовая минимизация - требуемая цель проекта для усовершенствованных аналоговых схем и схем RF. В отличие от цифровых схем, где шум - эффект второго порядка, шум в аналоговых и схемах RF непосредственно влияет на метрики производительности системы, такие как отношение сигнал-шум (SNR) и коэффициент битовых ошибок (BER).

3 метода для успешного проектирования MEMS-IC

Отправлено Гость (не проверено) от ср, 10/12/2016 - 13:09

В этом документе обсуждаются 3 метода для успеха в MEMS моделировании и симуляции на системном уровне:

I. Моделирование  элемента с эквивалентными схемами
II. Иерархическая абстракция MEMS и аналитическое поведенческое моделирование
III. Поведенческое моделирование MEMS на основе анализа конечных элементов (FEA) и Boundary Element Analysis (BEA)

Каждый их этих эффективных методов имеет свои собственные преимущества и ограничения – важно знать, когда использовать какой тип